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            QSpec科思凯系列>> 透过反射率测试仪>>Planum-3000平面光学元件光谱分析仪  

            Planum-3000平面光学元件光谱分析仪

            全自动透光率/反射率分析仪

            型号:Planum-3000

            用途:用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/绝对

            反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。

            Planum-3000平面光学元件光谱分析仪-适宜测量范围:棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。

             

                                     操作软件界面

             

            平面光学元件光谱分析仪的技术参数:

             

            型号 Planum-3000(Ⅰ型) Planum-3000(Ⅲ型)
            探测器 Sony线形CCD 阵列 Hamamatsu背照式2D-CCD
            检测范围 380-1000nm 360-1100nm
            波长分辨率 1nm 1nm
            信噪比(全信号) 250:1 1000:1
            相对检测误差 ﹤1%400-800nm 0.2%400-800nm
            重复定位精度 0.005°
            透射测量角度 0-80°(小样品0-50°)
            反射测量角度 10-80°(可扩展到5°)
            样品尺寸 Φ5mm
            单次测量时间 <1ms
            S/P光测量 支持
            其他 可自定义打印报告格式,开放式光学材料数据库

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